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04.04.1975

Hewlett-Packard Minicomputer-Tests:Zuverlässige RAM's

CUPERTINO, KALIF. - Die Hewlett-Packard Data Systems Division hat kürzlich die Ergebnisse von Tests bekanntgegeben, die mit 4 K-Random-Access Memory (RAM) Speichern in rund 6,5 Millionen Teststunden gewonnen wurden. Dieser Speichertyp für wahlfreien Zugriff wird immer mehr in Minicomputern als Baustein für Halbleiter-Hauptspeicher verwendet. Die 4 K-RAM's wiesen dabei eine Ausfallrate von nur 0,11 Prozent pro 1000 Betriebsstunden auf, womit sich gezeigt hat, daß Minicomputer mit MOS-Technik eine um den Faktor 1,5 bis 1,6 höhere System-Verfügbarkeit haben als die früheren Minis mit Kernspeicher.

Die Tests wurden in der Zeit von August bis Dezember 1974 durchgeführt. Dabei wurden insgesamt l2 400 4 K-RAM-Speicherelemente getestet. Ungefähr 100 Minicomputer des Typs Hewlett-Packard 21 MX wurden den Prüfungen unterzogen, 20 davon über die gesamte Testperiode.

Hewlett-Packard erwartet, daß bei steigenden Produktionszahlen für RAM-Chips die Ausfallrate auf 0,05 Prozent pro 1000 Betriebsstunden gesenkt werden kann: die neuen Halbleiterspeicher wären damit doppelt so zuverlässig wie Kernspeicher.

Obwohl Hewlett-Packard die "Mean-Time Between Failure" (MTBF) für seine Produkte nicht spezifiziert, ergaben die Tests eine MTBF von 5880 Stunden bei 8 K-Worte-Systemen. (pi)

Information: Hewlett-Packard, 6000 Frankfurt / Main 56, Berner Straße 117