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18.05.1979

Siemens-lC-Testgerät 725:Programmierbar und mikoprozessorgesteuert

MÜNCHEN (pi) - Der vollprogrammierbare IC-Tester 725 von Siemens ist ein digital arbeitendes Hochgeschwindigkeits-Testgerät mit Mikroprozessor-Steuerung zum Prüfen von 24poligen SSI- und MSI-Bauteilen. Mit dem Gerät können neben Gleichspannungs-Parametern auch die Funktionen von Digital-Bausteinen geprüft werden. Der IC-Tester läßt sich beispielsweise beim Herstellen von Bauteilen in der Fertigungskontrolle sowie beim Untersuchen einzelner Bauteile einsetzen.

Da das Testgerät modular aufgebaut ist, kann es durch Zusatz-Bausteine an unterschiedliche Prüfaufgaben angepaßt werden. Im Gerät ist ein universell verwendbarer SchnittstelIen-Baustein vorhanden. Für den Dialog mit dem IC-Tester 725 dient ein Ein-/Ausgabe-Blattschreiber.

Der IC-Tester arbeitet bei hoher Prüfgeschwindigkeit mit Prüfraten bis zu 1MHz, um die Prüfzeit für größere MSI (Medium Scale Integration = mittlere Integration mit zehn bis 100 Grundschaltungen je Chip-) Bauelemente auf ein Minimum zu reduzieren. Der Mikroprozessor des Prüfgerätes ermöglicht einen flexiblen zeitmultiplexen Funktionsablauf vorgegebener Programme und das sofortige Auswerten der jeweiligen Prüfungsergebnisse.

Informationen: Siemens AG, Zentralstelle für Information, Postfach 103, 8000 München 1,

Telefon 089/23 41